直讀光譜儀實現(xiàn)純錫雜質(zhì)含量的準確測量

純錫主要應(yīng)用于各種金屬制備、鑄造和合金制造，經(jīng)常在板柵冶煉過程中隨時加錫，特別是Pb-Ca合金，由于用于免維護電池，對雜質(zhì)含量要求較嚴，一些有害雜質(zhì)如果含量超標會使電池的質(zhì)量受到嚴重影響。純錫中雜質(zhì)含量的測定迄今為止還沒有簡便、成熟、快速的方法，針對此問題，經(jīng)過多次反復(fù)試驗，采用直讀光譜儀間接測定純錫中Cu、Ag、Bi、As、Sb、Zn六種元素含量，收到了較為理想的效果。

一、儀器與分析條件

1、光譜儀：SPECTROLAB M 型光譜儀

2、激發(fā)光源：火花光源，頻率200HZ

3、氬氣：高純氬氣

二、樣品制備

由于直讀光譜儀只限于鉛及鉛合金中各種雜質(zhì)的分析，純錫不能直接用光譜儀進行測定，必須將純錫轉(zhuǎn)變?yōu)殂U基合金，而且轉(zhuǎn)變鉛基合金之后的元素含量范圍不得大于儀器通道的含量范圍，樣品必須均勻，為此我們分別作了如下實驗：

樣品溶解：稱取一定量的純錫樣品約20g左右和純鉛300g左右，先將純鉛置電爐上加熱溶解后，再放入純錫樣品（塊狀），待純錫溶解完全后，立即攪拌均勻，倒出鑄成鉛錠，備用。

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