日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。

使用儀器分析室內(nèi)置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。

紅框內(nèi)擴大了的范圍由右圖表示。

可以更精密地指定測量位置。

面掃3描分析結果

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